X射線(xiàn)熒光光譜簡(jiǎn)介

　　X射線(xiàn)熒光光譜（XRF）分析是一種常規(guī)的、無(wú)污染和非破壞性分析技術(shù)。它是由X射線(xiàn)管發(fā)出的一次X射線(xiàn)激發(fā)樣品，使樣品所含元素輻射特征熒光X射線(xiàn)也就是二次X射線(xiàn)，根據(jù)譜線(xiàn)的波長(zhǎng)和強(qiáng)度對(duì)被測(cè)樣品中元素進(jìn)行定性和定量分析。X射線(xiàn)熒光光譜法也被稱(chēng)為X射線(xiàn)二次發(fā)射光譜法。

　　XRF分析技術(shù)常用于巖石、土壤、水系沉積物中37種主要、次要元素的固體、粉末樣品的定性和定量分析。XRF分析具有以下特點(diǎn)：（1）分析元素范圍廣，可以測(cè)試Be-U之間的元素；（2）測(cè)定元素的含量范圍寬，可以從10-6級(jí)到100%；（3）自動(dòng)化程度高，分析速度快；（4）分析精度高，重現(xiàn)性好；（5）非破壞性分析，并且分析試樣制備比較簡(jiǎn)便；（6）分析試樣可以是固體、粉末、液體和晶體、非晶體等不同物理狀態(tài)的物質(zhì)。

儀器介紹

　　XRF實(shí)驗(yàn)室隸屬于中國(guó)科學(xué)院廣州地球化學(xué)研究所同位素地球化學(xué)國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室。目前擁有日本理學(xué)X射線(xiàn)熒光光譜儀兩臺(tái)，型號(hào)分別為ZSX 100e和ZSX Primus IV。

　　XRF分析是一種常規(guī)的、無(wú)污染和非破壞性分析技術(shù)，常用于固體、粉末樣品的定性和定量分析。該技術(shù)主要用于巖石、土壤、水系沉積物中37種主要、次要元素的分析。實(shí)驗(yàn)室面向國(guó)內(nèi)外高校及科研院所等科研人員和研究生開(kāi)放，可為地質(zhì)與環(huán)境科學(xué)研究提供高質(zhì)量的分析數(shù)據(jù)，同時(shí)可為冶金、礦業(yè)以及鋼鐵等行業(yè)的材料判別和定量分析提供高效服務(wù)。

　　主要應(yīng)用于：1）巖石、土壤等樣品定量分析；2）巖石、土壤等樣品定性-半定量分析；3）礦物、玻璃等原位無(wú)損分析。

1. 日本理學(xué)ZSX 100e型X射線(xiàn)熒光光譜儀

生產(chǎn)商：日本株式會(huì)社理學(xué)（Rigaku），型號(hào)：ZSX Primus IV

　　ZSX 100e為2003年完成安裝調(diào)試驗(yàn)收后投入使用，儀器配備4KW超薄端窗型銠靶X射線(xiàn)管，常用于固體、粉末等的定性和定量分析。其內(nèi)置的無(wú)標(biāo)樣分析技術(shù)可對(duì)材料進(jìn)行快速材質(zhì)判別。該儀器穩(wěn)定性好、有良好的線(xiàn)性范圍（10-6-102），分析精確度好、準(zhǔn)確度高，是十多年來(lái)科研人員主量元素測(cè)試的首選儀器。

  2. 日本理學(xué)ZSX Primus IV型X射線(xiàn)熒光光譜儀

生產(chǎn)商：日本株式會(huì)社理學(xué)（Rigaku），型號(hào)：ZSX Primus IV

　　ZSX Primus IV儀器為2019年11月完成安裝，屬于理學(xué)公司最新研制出的一款產(chǎn)品。儀器配備4KW（60kV-150mA）、端窗型Rh靶X射線(xiàn)管；分光晶體：LiF200、LiF220、PET、Ge、RX25；可分析F-U間元素：常量(%)-微量(ppm)；精密度（主、次量元素）RSD%：0.1-1.0；計(jì)數(shù)線(xiàn)性：閃爍計(jì)數(shù)器SC（Ti - U）為1800kcps，流氣正比計(jì)數(shù)器F-PC（Be -Zn）為3000kcps；雙真空室：可提高整體分析速度,保證光學(xué)系統(tǒng)潔凈；APC功能：提高輕元素分析準(zhǔn)確性。

　　配套設(shè)備：Analymate-V8C型4頭高頻加熱熔樣機(jī)，具多階段升溫功能，熔樣速度快、效率高，每年可滿(mǎn)足6000多個(gè)樣品的制樣需求。其余設(shè)備還包括40噸自動(dòng)液壓壓片機(jī)、30KVA UPS電源、水冷機(jī)等。

實(shí)驗(yàn)室成員

王鑫玉，工程師，負(fù)責(zé)樣品制備、XRF日常測(cè)試、維護(hù)及運(yùn)行，并負(fù)責(zé)XRF實(shí)驗(yàn)技術(shù)開(kāi)發(fā)及應(yīng)用

　　電話(huà)：020-85292712          Email：wangxy@gig.ac.cn          辦公室：同位素樓410室

收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)：

　　實(shí)驗(yàn)室對(duì)所內(nèi)外研究人員開(kāi)放，在儀器狀態(tài)穩(wěn)定情況下，可實(shí)現(xiàn)一天24小時(shí)不間斷測(cè)試分析。

　　上述收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)自2020年1月1日起實(shí)行。

　　樣品準(zhǔn)備和注意事項(xiàng)

　　1. 擬分析樣品粉末應(yīng)小于200目。所測(cè)樣品可以是巖石、土壤、沉積物等。

　　2. 熔片法適用于巖石、土壤等樣品的主微量元素的定量分析；粉末壓片法適用于粉末樣品的定性-半定量分析。

　　3. 禁止采用熔片法熔融重金屬礦化的樣品（Pb、Cu、Zn>2000ppm, Cr、Ni>5000ppm）、高硫樣品(S>2%)和磷酸巖樣品。不確定含量者，請(qǐng)先做粉末壓片進(jìn)行半定量掃描。

歡迎來(lái)訪(fǎng)：

　　廣東省廣州市天河區(qū)科華街511號(hào) 中國(guó)科學(xué)院廣州地球化學(xué)研究所同位素樓410房， 聯(lián)系電話(huà)：020-85292712